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主要技術(shù)參數(shù):
熔點(diǎn)測(cè)量范圍:室溫至320℃
測(cè)量重復(fù)性:±1℃ (在<200℃ 時(shí))
±2℃(在20 .0℃ 一320℃ 時(shí))
溫度顯示最小值:0.1℃
熔點(diǎn)觀察方式 單目顯微鏡
光學(xué)放大倍數(shù) 40×
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